إطار لتحليل التشتت الأمامي والعكسي لميتاسيرفيس ذات فتحة محدودة

يتم تقديم إطار لتقييم المجال الكهرومغناطيسي المنتثر من ميتاسيرفيس هولوجرافية قابلة لإعادة التشكيل ذات فتحة محدودة (RHM). استنادًا إلى البصريات الفيزيائية وتمثيلها في فورييه، يلتقط الإطار بدقة تأثيرات حيود الحواف والانحراف في كل من المجال القريب والمجال البعيد. يمكن استخدامه إما بطريقة أمامية، لتوقع المجال المنتثر لتكوين معروف من RHM، أو بطريقة عكسية، لتوقع التكوين اللازم لـ RHM لإنتاج تشتت معين. تؤكد النتائج الرقمية صحة النموذج وتبرز أهميته في التشتت الأمامي والعكسي.