유라실:아데닌 및 유라실:구아닌 염기쌍 DNA에서의 등록 이동 구조

유라실 손상된 이중 가닥 DNA에서 등록 이동된 구조들은 염기 뒤집힌 유라실이 헬릭스 스택으로 재진입하는 것을 차단하여 병변 노출을 크게 연장한다. 분자동역학 시뮬레이션을 수행하여 다양한 서열 모티프와 유라실 염기 뒤집힘 방향에 따른 U:A 및 U:G 염기쌍 DNA에서 등록 이동 구조의 발생을 평가하였다. 등록 이동 구조는 상대적으로 흔했으며, 128개 시뮬레이션된 서열 중 49개에서 유의미한 집단이 관찰되었다. 이들은 U:A와 U:G 서열 모두에서 거의 비슷한 빈도로 나타났으나, 유라실은 U:A 서열에서 주溝 쪽으로, U:G 서열에서는 소溝 쪽으로 주로 뒤집히는 경향이 있었다. U:G 서열의 등록 이동된 염기쌍은 흔히 T:G 불일치를 포함하였다. 등록 이동의 대부분은 3' 방향에서 발생했으며, 일부 서열은 2개 및 3개 염기쌍에 걸친 등록 이동을 형성했다. 등록 이동 구조는 주로 UT 모티프가 있는 서열에서 발생했는데, 이들은 수리가 느린 것으로 알려져 있다.