在绿豆中挖掘抗枯萎病位点

由腐霉菌引起的枯萎病（FW）对绿豆（Vigna radiata L.）构成了重大威胁，影响其产量和质量。在本研究中，开发了一种重组自交系（RIL）群体，通过将高抗性品种Weilv 9002-341与高易感系V1128杂交而成。抗性评估显示产生的人群中平均疾病指数具有连续变异，符合数量性状的遗传模式。通过利用F2:3分离群体，我们进行了连锁图谱分析和通过测序的混合分离体分析，构建了遗传连锁图谱并确定了与抗性相关的区域。在该区域内，设计了14个新的简单序列重复标记，以实现精细图谱定位。一个位于0.17 Mb并包含19个注释基因的假定抗性位点被精确定位。最终，确定了两个作为抗性高优先候选基因。该研究的结果为绿豆抗枯萎病相关基因的功能研究奠定了基础。