Представлен многопараметрический датчик, предназначенный для контроля загрязнения поверхности космического аппарата. Описаны конструкция и структурная схема устройства, включающего кварцевые микровесы для измерения массовых отложений, и импедансный датчик для оценки толщины осажденной пленки и диэлектрических свойств загрязнений. Приведены методы измерения, а также результаты лабораторных испытаний, подтверждающие эффективность предложенного решения. Разработка позволяет оперативно отслеживать степень загрязнения и его характер, что важно для обеспечения надежности работы космических аппаратов в условиях воздействия внешних факторов.
K. E. Voronov (Wed,) studied this question.