Investigações em escala atômica sobre o mecanismo de migração da interface FCC/HCP tipo P sob diferentes modos de deformação em titânio puro

Este trabalho investigou sistematicamente os comportamentos de migração da interface de fase FCC/HCP que satisfaz a relação de orientação de tipo prismático (tipo P) em Ti puro durante a deformação plástica usando simulações de dinâmica molecular (MD). A migração da interface de fase tipo P é realizada com os movimentos dos passos de crescimento em duas camadas. Por meio de análise topológica, esses passos de crescimento em duas camadas são considerados como defeitos de interface, e seu vetor de discordância e altura do passo são FCC + HCP (ou HCP - FCC) e 2,749 Å (muito próximo do resultado simulado de 2,71 Å) em Ti puro, respectivamente. Simultaneamente, sua nucleação e migração também causam a formação de uma estrutura interfacial de fase específica, consistindo nas interfaces HCP || FCC, HCP || FCC e HCP || FCC, resultando na variação morfológica na lamela FCC. As discordâncias do tipo parafuso promovem a migração da interface interagindo com a interface de fase para causar variação estrutural interfacial local ou atuando como uma fonte de discordâncias para se dissociar em pares de dipolos de passo na interface durante o processo de carregamento. Além disso, o comportamento de migração da interface é significativamente afetado pelos modos de deformação. Em comparação ao carregamento de cisalhamento puro, a introdução de tensão adicional de tração pode promover a migração rápida da interface de fase tipo P formando concentrações de tensão localizadas na ponta da FCC para facilitar a nucleação maciça dos passos de crescimento. Este trabalho pode fornecer uma compreensão aprofundada sobre os comportamentos de migração da interface de fase tipo P em escala atômica e oferecer orientação teórica para governar o crescimento das lamelas de FCC em ligas de Ti.