D2分子的（3–0）谱带首次探测及绝对迁移频率测定

利用基于梳状光频率标准的腔衰荡光谱法，在约1.18 µm波长处新测量了D2第二泛音带中的三个电四极矩跃迁。这些极弱跃迁（谱线强度小于10−29 cm/分子）是D2（3–0）带中首次被探测到的。室温下，分别在8321、8446和8607 cm−1附近记录了O(3)、O(2)和Q(2)谱线的光谱，压力范围为100至600 Torr。通过采用包含强Dicke变窄效应的超越Voigt轮廓拟合方法，从谱线拟合中精确测定了这三条D2跃迁的迁移频率和谱线强度。考虑到统计拟合误差及与水谱线（强度比研究的D2谱线高六个数量级）干扰可能带来的偏差，外推至零压的频率总不确定度估计低于14 MHz（约4.7 × 10−4 cm−1）。实验获得的频率和强度数据与第一性原理计算结果进行了比较，整体上达成一致，确认了最先进理论计算的位置精度。